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            高低溫老化測試箱

            高低溫老化測試箱

            更新日期:2025-12-16

            點(diǎn)擊次數(shù):2734

            簡要描述:艾思荔高低溫老化測試箱又名電路板高低溫試驗(yàn)箱,用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性。電路板高低溫試驗(yàn)箱主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫、低溫、濕熱、條件下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求

            詳細(xì)說明:

              高低溫老化測試箱

              艾思荔生產(chǎn)高低溫老化測試箱采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。滿足GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備、GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

              高低溫老化測試箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

              GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

              GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

              GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)

              GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

              GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

              GB10592-2006高低溫老化測試箱技術(shù)條件

              GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

              高低溫老化測試箱溫濕度范圍:

              溫度范圍: A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃ D:-70℃~150℃

              溫度波動度: ±0.5℃(常壓,空載)

              溫度均勻度: ±2℃(常壓,空載)

              溫度偏差: ±3℃(常壓,空載)

              升溫速率: 1.0~3.0℃/min

              降溫速率: 0.7~1.0℃/min

              壓力范圍: 常壓~0.5kPa

              壓力偏差: 常壓~40Kp:±1.8Kpa;40Kp~4Kpa:±4.5%;4Kp~0.5KPa:±0.1Kpa

              降壓時(shí)間: ≤45min(常壓~0.5kPa)

              高低溫老化測試箱技術(shù)參數(shù)

              1、溫度范圍:(0℃、-20℃、-40℃、-70℃)~+150℃

              2、濕度范圍:30~98%RH

              3、溫度均勻度≤±2.0℃

              4、溫度波動度≤±0.5℃

              5、濕度波動:+2-3%RH

              6、降溫速率:0.7℃~1℃(空載狀態(tài)下)

              7、升溫速率:1~3℃(空載狀態(tài)下)

              高低溫老化測試箱循環(huán)系統(tǒng)

              1.制冷機(jī)采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機(jī)。

              2.冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

              3.升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。

              高低溫老化測試箱設(shè)備用途:

              艾思荔高低溫老化測試箱又名電路板高低溫試驗(yàn)箱,用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性。電路板高低溫試驗(yàn)箱主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫、低溫、濕熱、條件下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用



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